可執(zhí)行多個應(yīng)用程序的非接觸式集成電路(IC)卡，包括:多個天線線圈，每個線圈通過接收讀寫器的電磁波產(chǎn)生電勢；一種電勢測量裝置，可用于測量讀寫器時每個天線線圈產(chǎn)生的非接觸式滴膠卡產(chǎn)生的電勢；一種電勢比較裝置，可用于比較電勢測量裝置測量的電勢特性；以及應(yīng)用選擇/執(zhí)行單元，應(yīng)用程序選擇/執(zhí)行單元可根據(jù)電動勢比較單元的比較選擇應(yīng)用程序，并執(zhí)行所選應(yīng)用程序。

根據(jù)權(quán)利要求1所述的非接觸IC卡，其中電勢比較單元比較電勢強度，與產(chǎn)生最強電勢的天線線圈相關(guān)的應(yīng)用程序選擇/執(zhí)行單元執(zhí)行。

非接觸式滴膠卡根據(jù)索賠1，其中電勢比較單元產(chǎn)生的電勢部隊在預(yù)定時間內(nèi)第二次運行以來，比較優(yōu)勢的多元化天線圈是第一個測量電勢的測量單元，應(yīng)用選擇/執(zhí)行單元執(zhí)行與第二次產(chǎn)生最強電勢的天線圈相關(guān)的應(yīng)用程序。

非接觸式滴膠卡根據(jù)權(quán)利要求1。當電勢比較單位乘以每個電勢達到峰值時，產(chǎn)生的電勢是指每個天線線圈和測量電勢的測量單位，以及應(yīng)用程序選擇/執(zhí)行單位執(zhí)行的應(yīng)用程序和天線線圈的電勢首先達到峰值。

非接觸式集成電路的應(yīng)用程序選擇方法(IC)卡可以實現(xiàn)應(yīng)用程序的多樣化，包括非接觸式滴膠卡的多樣化天線圈。每個電動勢通過接收電磁波從閱讀器/寫入器中生成，方法包括：測量每個天線圈產(chǎn)生的電動勢；比較測量電動勢的特性；并根據(jù)比較選擇應(yīng)用程序并執(zhí)行選定的應(yīng)用程序。

計算機可讀存儲介質(zhì)上存儲程序的非接觸式集成電路(IC)該卡可以實現(xiàn)應(yīng)用程序的多樣化，包括非接觸式滴膠卡的多樣化天線圈，通過接收電磁波從閱讀器/寫入器生成電動勢，計算機執(zhí)行程序的步驟：測量每個天線線圈產(chǎn)生的電動勢；比較測量電動勢的特性；根據(jù)比較選擇應(yīng)用程序并執(zhí)行選定的應(yīng)用程序。

集成電路控制接觸器集成電路(IC)卡，可以執(zhí)行多個應(yīng)用程序，包括非接觸式滴膠卡的多元化天線圈，每個通過接收電磁波從閱讀器/寫入器生成一個電動勢。集成電路包括：一個電動勢測量單元操作和測量每個天線圈產(chǎn)生的電動勢；電動勢比較裝置，可用于比較電勢測量裝置測量的電勢特性；以及一個應(yīng)用程序選擇/執(zhí)行單元。應(yīng)用程序選擇/執(zhí)行單元可根據(jù)電勢比較單元的比較選擇應(yīng)用程序，并執(zhí)行所選應(yīng)用程序。